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標(biāo)題:HDD IBM Drive Fitness Test硬盤測試軟件詳解

1樓
wangxinxin 發(fā)表于:2010-12-15 13:45:38
快過年了,這幾天有很多朋友都買硬盤給自己的愛機(jī)升級,也讓她過個好年。但是很多朋友不知道該如何檢測硬盤的好壞。現(xiàn)在,我就拿檢測IBM硬盤最權(quán)威的軟件IBM  Drive Fitness Test來一個詳細(xì)的說明。
首先,將軟件下載并解壓,解壓縮時提示直接放入軟盤,按提示一路確認(rèn)后,軟盤里有ASPI,DATA,DFT,DOS四個文件夾和autoeexec.bat,command.com,config.sys,ibmbio.com,ibmdos.com5個文件。

以下以TP 600E 為范例,硬盤是好的。現(xiàn)在可以開始測試了!

不好意思,我沒有DC,只有攝像頭,不是很清晰,大家湊合看吧。

一、將軟盤放到軟驅(qū),并進(jìn)BIOS設(shè)置為軟驅(qū)啟動。
二、開機(jī)用軟驅(qū)引導(dǎo),出現(xiàn)如下界面,選擇第2項,只測試ATA硬盤。

[ Last edited by c@ini@o on 2004-3-17 at 14:09 ]


1.jpg

三、出現(xiàn)以下畫面時點(diǎn)擊“I   Agree”.

[ Last edited by c@ini@o on 2004-3-17 at 14:12 ]


2.jpg

c@ini@o at 2003-12-28 13:32:10
四、出現(xiàn)以下畫面,大體意思是問找到的驅(qū)動器正確么?點(diǎn)擊“YES”。

[ Last edited by c@ini@o on 2004-3-17 at 14:12 ]


3.jpg

c@ini@o at 2003-12-28 13:33:30
五、出現(xiàn)以下畫面,我們有兩種選擇:
1、“Quick  Test”:快速測試。
快速測試時間最短,但只能進(jìn)行簡單的測試。
2、“Advanced Test”:高級測試。
高級測試耗時較長,但測試內(nèi)容詳盡,硬盤有無問題均可測試出來,推薦使用。

[ Last edited by c@ini@o on 2004-3-17 at 14:13 ]


4.jpg

c@ini@o at 2003-12-28 13:34:17
六、我們先進(jìn)行快速測試,看看結(jié)果怎樣。點(diǎn)擊“Quick  Test”后,出現(xiàn)如下畫面:
點(diǎn)擊“STRAT”,開始了。
需要注意的是,測試開始后,鼠標(biāo)均不能使用。

[ Last edited by c@ini@o on 2004-3-17 at 14:14 ]


5.jpg

c@ini@o at 2003-12-28 13:35:22
七、不到2分鐘,我的600E 6。4G 硬盤就測試完畢,出現(xiàn)以下畫面:Operation
completed successfally ,DISPOSITION CODE=0*00,意思是 運(yùn)算全部成功,點(diǎn)擊“OK”,又退回前一畫面。

[ Last edited by c@ini@o on 2004-3-17 at 14:14 ]


6.jpg

c@ini@o at 2003-12-28 13:39:39
八、這次,我們該進(jìn)行高級測試了,步驟同上。
經(jīng)過長時間的測試后,因?yàn)槲业挠脖P是好的,所以仍然提示:Operation
completed successfally,DISPOSITION CODE=0*00。
如果硬盤有任何問題,均不會出現(xiàn)上述提示,會有其它錯誤代碼提示并且畫面背景為紅色(后附錯誤代碼表)這樣,我們只需花不很長的時間就可以知道硬盤是好的還是壞的了。
需要注意的是,測試時間與硬盤容量大小有關(guān),硬盤越大,測試時間越長,我的6。4G硬盤高級測試花了12分鐘。

[ Last edited by c@ini@o on 2003-12-28 at 14:52 ]

[ 本帖最后由 c@ini@o 于 2005-11-12 14:33 編輯 ]
c@ini@o at 2003-12-28 13:44:08
十、下面,我們看一下IBM  DFT還有什么其它功能。
我們看標(biāo)題欄,有:DRIVE、FITNESS TEST UTILITES、HELP。
1、DRIVE(驅(qū)動器)下有:SLETCT DRIVE ALT-S(選擇驅(qū)動器),用來選擇你想測試的驅(qū)動器。
RESCAN BUS  ALT-R:我查英漢詞典查不到什么意思。
EXIT  ALT-X:退出,沒什么好說的。

[ Last edited by c@ini@o on 2004-3-17 at 14:18 ]


7.jpg

c@ini@o at 2003-12-28 13:44:43
2、FITNESS TEST (適當(dāng)?shù)臏y試)下有:QUICK TEST(快速測試)我們已經(jīng)用過了,不多說了。
ADVANCED TEST :高級測試  這個我也介紹過了。

[ Last edited by c@ini@o on 2004-3-17 at 14:21 ]


8.jpg

c@ini@o at 2003-12-28 13:49:23
3、UTILITES(功能)下有:DRIVE INFO(驅(qū)動器信息)里面有硬盤的詳細(xì)信息,一會我會詳細(xì)介紹。
ERASE BOOT SECTOR(抹去分區(qū)表)很顯然,這項是在分區(qū)表損壞時用來重建分區(qū)表的。我的硬盤是日立的,無法使用這一項。
ERASE DISK(格式化硬盤)應(yīng)該是低級格式化。只能用在IBM的硬盤上。
CORRUPTED SECTOR REPAIR(修復(fù)壞的部分)應(yīng)該是可以修復(fù)一些小問題,同樣只適用IBM硬盤。
ATA FUNCTIONE下有S。M。A。R。T。 OPERATIONS這項我記不清什么意思了。

[ Last edited by c@ini@o on 2004-3-17 at 14:22 ]


9.jpg

c@ini@o at 2003-12-28 13:50:42
現(xiàn)在詳細(xì)介紹一下DRIVE INFO(驅(qū)動器信息),以我的TP600E,日立硬盤介紹:
點(diǎn)擊DRIVE INFO(驅(qū)動器信息)后,顯示如下畫面:
MODEL(型號):HITACHI_DK239A-65B
CAPACITY(容量):6.45GB
CACHE SIZE(緩沖大小):512KB
ATA COMPLIANCE(看不懂):ATA-4(應(yīng)該是ATA接口速率)
ULTRA   DMA
   HIGHEST MODE(高度方式,我也不明白什么意思):2
   ACTIVE  MODE(活動方式 ,我也不明白什么意思):2
SETTINGS   設(shè)置
   WRITE CACHE(書寫緩沖):ENABLED(開啟)
   READ LOOK-AHEAD(不懂):ENABLED(開啟)
   S。M。A。R。T。 OPERATIONS(不懂):ENABLED(開啟)
   S。M。A。R。T. STATUS(不懂):GOOD
   SECURITY FEATURE(安全特性):SUPPORTED(支持)
   PASSWORD(密碼):NOT SET (沒設(shè))
   SECUTITY MODE(不懂):FROZEN (不懂)

[ Last edited by c@ini@o on 2004-3-17 at 14:23 ]


10.jpg

c@ini@o at 2003-12-28 13:52:46
現(xiàn)在基本上把IBM DFT如何使用介紹完了,因?yàn)槲业挠⑽牟缓茫行┕δ苤荒苡迷贗BM硬盤上,我的硬盤又是日立的,所以我也沒用過。如有錯誤或補(bǔ)充,歡迎跟貼說明!
希望拙文能給需要的朋友一些幫助,愿大家都能買到一塊好硬盤!

[ Last edited by c@ini@o on 2003-12-28 at 15:10 ]
補(bǔ)充一下檢測結(jié)束后錯誤代碼表:

    0X00 -  Not error
0X10-  Aborted
0X20 -  Device Not Present
0X22 -  Password Protected
0X30-  Out of memory
0X31-  Wrong Parameter
0X32-   Illegal Parameter
0X33-   Function not supported
0X40-   System Error
0X41-   Bad Cable
0X42 -  Temerature Limit exceeded
0X43-   Pending SCSi Request
0X44-   System Vibration
0X45-   Low system Performance  
0X70-   Defective Device
0X71-   Device Nor Ready
0X72-   Device SMART Error
0X73-   Device Damaged By Shock
0X74-   SMART self test Error SMART
0X75    Defective device



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